รุ่น:HAP-100U
เส้นผ่านศูนย์กลางของตัวอย่าง:3 (ตัวเลือก: 4 นิ้ว) สามารถใช้สําหรับการบดและเลือง 3 (ตัวเลือก: 4 นิ้ว) วอฟเฟอร์
ตัวอย่างมุมเอียง:สามารถปรับได้ 0-10 องศา
การใช้งาน:การทดสอบแม่เหล็ก
มาตรฐาน:ASME JB/T6066-2005
ประเภทว่างเปล่า:ชิ้นปลอม
ช่วงการวัด:0 ～ 50μm
การบริโภคพลังงาน:ไม่เกิน 25 W
พลังงานไฟฟ้า:AC 220V ± 10%, 50 ～ 60Hz
ความละเอียดขัดเงา:1 ไมครอน
ตัวอย่างมุมเอียง:สามารถปรับได้ 0-10 องศา
ตัวอย่างแรงโหลด:ปรับได้อย่างต่อเนื่องตั้งแต่ 0-4 กิโลกรัม
หน่วยแสดงผล:CPM、CPS、Bq/cm2、mSv、μGy/h、mGy/h
ข้อผิดพลาดพื้นฐานที่สัมพันธ์กัน:บวกหรือลบ 15% หรือน้อยกว่า
การวัดเวลา:1, 10, 20, 60, 120 วินาทีเป็นตัวเลือก
ระยะทาง:0-15000 มม. ที่ความเร็วเหล็ก
ความเร็วของวัสดุ:100～20000 ม./วินาที
ความถี่การทำซ้ำของพัลส์:10-10000Hz
กระแสแม่เหล็ก:AC 0-4000A ปรับได้อย่างต่อเนื่องด้วยการควบคุมเฟสปิดไฟ
ศักยภาพในการสะกดจิตตามยาว:AC 0- (3000A*6T) 18000AT ปรับได้อย่างต่อเนื่องด้วยการควบคุมเฟสปิดไฟ
จังหวะการหนีบ:0 mm-1500 mm
กระแสแม่เหล็กรอบเส้นรอบวง (A):4000
การดึงดูดระยะยาว MMF (AT):12000、16000、18000
เส้นผ่านศูนย์กลางภายในคอยล์เสริม (มม.):350、400、500
กระแสไฟฟ้ากระแสสลับ:0-1500A
พลังงานไฟฟ้า:220V (ระบบสองเฟสสามสาย) ± 10%, 50Hz, กระแสทันทีประมาณ 100A;
วิธีการสะกดจิต:การทำให้เป็นแม่เหล็กแบบ AC, การทำให้เป็นแม่เหล็กแบบ DC (HWDC/FWDV)
ระยะห่างของอิเล็กโทรดแม่เหล็ก:45 ~ 225 มม.
ความยาวสายไฟ (สายสปริง):3 ม
อุณหภูมิสูงขึ้น:จัดการอุณหภูมิพื้นผิว≤40° C
ศักยภาพฟลักซ์แม่เหล็กตามยาว （ที่）:12000
เส้นผ่านศูนย์กลางด้านในของขดลวด (มม.):400
ระบบควบคุม:คู่มือ/กึ่งอัตโนมัติ
เครื่องตรวจจับ:โมดูลตรวจจับ SDD ซิลิกอนดริฟท์ประสิทธิภาพสูง
วิเคราะห์องค์ประกอบหลักในโลหะผสม:สามารถวิเคราะห์ MG, Al, Si, P, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, SE, Zr, NB, MO, RH, PD, AG, CD,
วิธีการวิเคราะห์:วิธีการวิเคราะห์การอ่านโดยตรง+วิธีการปารามิเตอร์พื้นฐาน ((FP)
